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熒光壽命成像原理及應用

發(fā)布時間:2020/3/11 點擊量:4017

熒光壽命成像原理及應用

    熒光壽命是指分子受到光脈沖激發(fā)后返回基態(tài)之前在激發(fā)平均停留的時間,處于激發(fā)態(tài)的熒光分子在從激發(fā)到基態(tài)的過程中發(fā)射熒光釋放能量。熒光壽命取決于熒光分子所處的微環(huán)境,通過對樣品熒光壽命的測量和成像可以定量獲取樣品的功能信息。
    熒光壽命成像技術有兩種:時間域和頻率域。
    (1)時域FLIM:需要脈沖光源,所以一般在雙光子的系統(tǒng)上比較常見FLIM(熒光壽命成像Fluorescence Life-time imaging Microcopy簡稱FLIM),理由一是激光是脈沖的,二是買雙光子的老師一般也搭配一個FLIM。如果是在單光子系統(tǒng)上的話,就需要買可見光波段的pulsed laser了。光路調節(jié)也是一個問題,提供的廠家一般是Becker&Hickl,和PicoQuant,德國公司。這個方法比較流行,也有很多系統(tǒng)。
    (2)頻域FLIM:需要一個相位調制的光源,有用LED調制的,荷蘭的Lambert-Instrument就有這樣一套產品,是在wide-field的熒光顯微鏡上搭的,也有在共聚焦上的。
    FLIM對很多研究都有幫助,只是在生物領域的影響力不大,都是一些物理背景的科研人員在做。覺得用FLIM-FRET的方法得出結果,比單純intensity FRET拿到的數據可靠得多。
    以下為熒光壽命成像FLIM的應用:
    1)細胞體自身熒光壽命分析;
    2)自身熒光相對熒光標記的有效區(qū)分;
    3)具有相同頻譜性質的不同熒光標記的區(qū)分;
    4)活細胞內水介質的PH值測量;
    5)局部氧氣濃度測量;
    6)活細胞內鈣濃度測量;
    7)時間分辨Forster共振能量轉移(FRET):納米級尺度上的遠程測量,環(huán)境敏感的FRET探針定量測量。

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